[书籍] 大气中子在先进存储器件中引起的软错误
出版社:
国防工业出版社
简介:
《大气中子在先进存储器件中引起的软错误》由日本东北大学的。Takashi Nakamura、日立有限公司的Eishi Ibe和萨瑞公司的Hideaki Kamayama编，详细介绍了宇宙射线产生的大气层中子辐射环境、几种典型的中子能谱和剂量探测器、中子单粒子翻转截面的中子实验方法、中子单粒子效应模拟的蒙特卡罗模型、国际上新的一些实验标准规范以及加固方法。《大气中子在先进存储器件中引起的软错误》内容丰富、信息量大、指导性强，是一部集基础理论和实用技术为一体的专，不仅对从事抗辐射加固技术研究的科研人员具有很好的参考价值，对新加入该领域的研究人员了解单粒子效应也提供了必备的基础知识。希望该书中译本的出版可供国内同行借鉴参考。
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