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[书籍] 公差配合与测量技术
作者: 张晓宇 , 刘伟雄 编
出版社: 华中科技大学出版社
简介: 本书主要内容包括绪论、测量技术基础、极限与配合、几何公差、表面粗糙度、量具与光滑极限量规、典型零件公差配合及检测、尺寸及几何公差测量技术。本书集理论教学、实操实训为一体,全书采用XX国家标准,文字叙述精炼、内容通俗易懂,文字与图片并举。
  
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