[书籍] 半导体物理与器件实验教程
出版社:
科学出版社
简介:
《半导体物理与器件实验教程》分上、下两篇，上篇为半导体物理实验部分，包括晶体结构构建、晶体电子结构仿真与分析、单波K椭偏法测试分析薄膜的厚度与折射率、探针测试半导体电阻率、霍尔效应实验、高频光电导法测少子寿命、肖特基二极管的I-V特性测试分析、肖特基二极管的势垒高度及半导体杂质浓度的测试分析和MIS的高频C-V测试；F篇为微电子器件实验部分，包括二极管直流参数测试、双极型晶体管直流参数测试、MOS场效应晶体管直流参数测试、双极型晶体管开关时问测试和双极犁晶体管特征频率测试。
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