[书籍] 纳米数字集成电路老化效应：分析、预测及优化
出版社:
清华大学出版社
简介:
《纳米数字集成电路老化效应：分析、预测及优化》的主要内容涉及一种公认的纳米工艺下较为严重的晶体管老化效应--负偏置温度不稳定性 （nbti）。介绍了nbti效应产生的物理机制及对电路服役期可靠性的影响。从提高nbti效应影响下电路可靠性的角度，论述了相应的硅前分析、在线预测和优化方法。 《纳米数字集成电路老化效应：分析、预测及优化》可为从事大规模数字集成电路可靠性设计及容错计算方向研究的科技人员，以及从事大规模集成电路设计和测试的工程技术人员提供参考；也可作为普通高等院校集成电路专业的教师和研究生的参考资料。
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