
[书籍] 工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法(GB/T 14849.5-2014)
出版社:
中国标准出版社
简介:
《工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法(GB/T 14849.5-2014)》规定了工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定方法。 《工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法(GB/T 14849.5-2014)》适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定,测定范围见表1。
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