JobPlus知识库 书籍
[书籍] 工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法(GB/T 14849.5-2014)
作者: 中华人民共和国国家质量监督检测检疫总局 , 中国国家标准化管理委员会 编
出版社: 中国标准出版社
简介: 《工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法(GB/T 14849.5-2014)》规定了工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定方法。 《工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法(GB/T 14849.5-2014)》适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定,测定范围见表1。
  
分享到
用户推荐(0)

暂无推荐,你也可以发布推荐哦:)

0 人收藏了这本书籍
腾讯云CDN拥有顶尖加速能力,丰富的功能全面覆盖各业务场景的加速需求,最为用户考虑的加速产品
广告
扫码APP

扫描使用APP

扫码使用

扫描使用小程序